產(chǎn)品名稱：SRM 2841 - 半導(dǎo)體薄膜：Alx鎵1-xAs外延層(Al摩爾分?jǐn)?shù))x?(接近0.20)標(biāo)準(zhǔn)品
英文名稱：Semiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction?x?near 0.20)
品牌：美國NIST
| 產(chǎn)品編號(hào) | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價(jià) | 您的折扣價(jià) |
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| SRM 2841 | disk | 現(xiàn)貨 | 27690 | 立即咨詢 |
- COA
- MSDS
本標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) (SRM) 旨在用作測量薄膜成分的分析方法的參考標(biāo)準(zhǔn)，例如電子微探針分析 (EMPA)、光致發(fā)光 (PL)、俄歇電子能譜 (AES) 和 X 射線光電子能譜（XPS）。 SRM 2841 的一個(gè)單元由 AlxGa1-xAs 外延層組成，在安裝的砷化鎵 (GaAs) 基板上生長經(jīng)過認(rèn)證的 Al 摩爾分?jǐn)?shù) x使用膠帶粘貼到不銹鋼圓盤上。每個(gè)單元都密封在含有氮?dú)鈿夥盏木埘ケ∧ば欧庵?。正確使用 SRM 作為比較標(biāo)準(zhǔn)取決于分析方法（參見“測量條件和程序”和 NIST 特別出版物 260-163 [1]）。
NIST SRM2841半導(dǎo)體薄膜：AlxGa1-xAs外延層（標(biāo)準(zhǔn)品）
認(rèn)證鋁值：
NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)?NIST [2] 已調(diào)查或解釋了所有已知或可疑的偏差來源。以摩爾分?jǐn)?shù)表示的鋁 (Al) 的認(rèn)證值在表 1 中提供。該認(rèn)證值基于 Al 摩爾分?jǐn)?shù)與薄膜 PL 光譜中峰強(qiáng)度能量之間已確認(rèn)的相關(guān)性[ 3,4]。認(rèn)證值的不確定度是擴(kuò)展不確定度 (k = 2)，旨在接近 95% 的置信水平 [5]。對(duì)每個(gè) SRM 單元進(jìn)行了兩次額外的質(zhì)量檢查。一、分子在樣品生長過程中監(jiān)測束外延生長系統(tǒng)。為了作為 SRM 被接受，由每個(gè)單元的反射高能電子衍射的強(qiáng)度振蕩確定的 Al 摩爾分?jǐn)?shù)必須在其擴(kuò)展的不確定性范圍內(nèi)與認(rèn)證值一致。其次，薄膜的自由載流子濃度必須在 1 × 1016 cm-3 和 5 × 1016 cm-3 之間
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表 1. SRM 2841 中鋁的認(rèn)證值（摩爾分?jǐn)?shù)）
鋁：樣品 ± 樣品
證書有效期：SRM 2841 的認(rèn)證在規(guī)定的測量不確定度內(nèi)有效期至 2031 年 8 月 1 日，前提是 SRM 按照本證書中給出的說明進(jìn)行處理和儲(chǔ)存（參見“操作說明，儲(chǔ)存和使用”）。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無效。樣品的使用和儲(chǔ)存會(huì)增加表面氧化和污染。對(duì)于對(duì)表面污染敏感的應(yīng)用，SRM 和未知樣品需要就地清潔，通常是光濺射。如果濺射薄膜導(dǎo)致薄膜明顯變粗糙或出現(xiàn)選擇性濺射跡象，則應(yīng)更換 SRM。
NIST SRM2841半導(dǎo)體薄膜：AlxGa1-xAs外延層（標(biāo)準(zhǔn)品）
陳經(jīng)理（銷售）
