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如SRM 1648a,PM 2.5,空氣顆粒物,硅粉

SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)) 標(biāo)準(zhǔn)品

產(chǎn)品名稱:SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)) 標(biāo)準(zhǔn)品

英文名稱:Silicon Nitride Powders (Quantitative Analysis Powder Diffraction Standard)

品牌:美國(guó)NIST

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SRM 656 2 x 10 g 現(xiàn)貨 8700 立即咨詢

產(chǎn)品詳情
- COA - MSDS

標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) NIST SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn))  由兩種粉末組成,旨在通過(guò)粉末衍射法對(duì)氮化硅的 α 和 β 多晶型物進(jìn)行定量分析。粉末是 α 和 β 多晶型物的組合;一種α相含量高(α656),而另一種含有較多的β多晶型物(β656)。這種選擇允許用戶選擇最適合他們特定分析的粉末。一個(gè) SRM 656 的單位由大約 10 g 的每種粉末組成。



材料描述:

粉末由亞微米、等軸、非聚集顆粒組成,不顯示消光或擇優(yōu)取向的影響。粉末在氬氣氣氛中裝瓶;已知氮化硅會(huì)與大氣中的水分緩慢反應(yīng)。對(duì)來(lái)自 X 射線粉末衍射數(shù)據(jù)的 Rietveld 分析的相量化和晶格參數(shù)值的分析表明,SRM 材料在衍射特性方面是均勻的。



認(rèn)證值:

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏?lái)源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。被測(cè)量是材料(氮化硅)的晶相純度、兩種多晶型物的質(zhì)量分?jǐn)?shù)(以百分比表示)以及表 1 和表 3 中提供的晶格參數(shù)的認(rèn)證值。計(jì)量溯源是衍生的質(zhì)量分?jǐn)?shù)單位(以毫克每千克表示)和長(zhǎng)度(以納米表示)的 SI 單位;分別用于晶相純度和晶格參數(shù)。認(rèn)證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計(jì)算的。

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信息值:

信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣和使用的值,但沒(méi)有足夠的信息來(lái)充分評(píng)估與該值相關(guān)的不確定性,或者它是從有限數(shù)量的分析。信息值不能用于建立計(jì)量溯源性。氮化硅的兩種多晶型物 (α/β) 的相對(duì)強(qiáng)度信息值、參考強(qiáng)度比 (RIR) [2](有關(guān) RIR 方法的完整討論,請(qǐng)參見(jiàn)參考文獻(xiàn) 3),來(lái)自分析的微觀結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)由激光散射測(cè)定的線譜展寬和粒度分布在表 4、5 和 6 中給出。

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儲(chǔ)存和使用說(shuō)明

儲(chǔ)存: 標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) NIST SRM 656 - 氮化硅粉末(定量分析粉末衍射標(biāo)準(zhǔn))   在氬氣中裝瓶以防潮。已知氮化硅與大氣水分緩慢反應(yīng)。不使用時(shí),將此粉末的未使用部分蓋緊蓋子存放在原瓶中,或以類似或更好的防潮保護(hù)方式(例如干燥器)存放。



來(lái)源、準(zhǔn)備和分析

材料:用于α656的粉末是UBE E10,UBE Industries Ltd.(日本東京),而用于β656的粉末是Denka SN-P21FC,Denki Kagaku Kogyo K.K. (日本東京)。高 β 相含量粉末由 Denki Kagaku Kogyo K.K. 捐贈(zèng)給 NIST。我們也感謝 UBE Industries Ltd. 的合作。


相純度:給定粉末樣品的長(zhǎng)計(jì)數(shù)時(shí)間 X 射線粉末衍射圖可以提供與高純度粉末一致的數(shù)據(jù),即沒(méi)有雜質(zhì)相并且背景與來(lái)自入射光束的空氣散射的貢獻(xiàn)一致和來(lái)自樣品的熱擴(kuò)散散射。然而,由于晶體結(jié)構(gòu)的弛豫和表面反應(yīng)產(chǎn)物的包含,任何晶體材料的表面區(qū)域都不會(huì)像塊體那樣發(fā)生衍射。雖然這個(gè)表面層的厚度可能只有幾個(gè)晶體單位的數(shù)量級(jí),但在細(xì)碎的固體中,它很容易占總質(zhì)量的幾個(gè)百分點(diǎn)。本文討論的“相純度”或“無(wú)定形含量”的表征不是在機(jī)械可分離的雜質(zhì)相的背景下,而是在 Si3N4 的化學(xué)和 SRM 原料的生產(chǎn)歷史中固有的微觀結(jié)構(gòu)特征。




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