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本標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì) (SRM) 旨在與基于化學(xué)過程和儀器技術(shù)的元素分析測(cè)試方法一起使用。 SRM 1155a 的一個(gè)單元是一個(gè)直徑 3.2 厘米、厚 1.9 厘米的實(shí)心圓盤。

NIST SRM 1155a 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)品)

認(rèn)證的質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

認(rèn)證的質(zhì)量分?jǐn)?shù)值在表 1 [1] 中提供。賦值類別基于 NIST 用于化學(xué)參考物質(zhì) [2] 認(rèn)證的術(shù)語(yǔ)和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠妬?lái)源已被調(diào)查或考慮。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的分析結(jié)果對(duì)真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。

參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值在表 2 中提供。參考值是未經(jīng)認(rèn)證的值，是當(dāng)前對(duì)真實(shí)值的最佳估計(jì)；但是，這些值不符合 NIST 的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn) [2]，并且提供了相關(guān)的不確定性，這些不確定性可能僅反映測(cè)量精度，不包括所有不確定性來(lái)源，或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的一致性。

信息質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

表 3 中提供了信息質(zhì)量分?jǐn)?shù)值。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來(lái)評(píng)估與值相關(guān)的不確定性 [2] .信息值不能用于建立計(jì)量可追溯性。

認(rèn)證到期：

SRM 1155a 的認(rèn)證在規(guī)定的測(cè)量不確定度范圍內(nèi)無(wú)限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲(chǔ) SRM（參見“使用說明”）。因此，不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無(wú)效。

NIST SRM 1155a 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)品)

SRM 認(rèn)證的維護(hù)：

NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變化，NIST 將通知購(gòu)買者。注冊(cè)（見附件或在線注冊(cè)）將有助于通知。

使用說明

測(cè)試面是沒有標(biāo)有SRM編號(hào)和菱形標(biāo)志的那一面。該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過認(rèn)證。每個(gè)封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過程可能會(huì)污染磁盤表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測(cè)試該材料。

均勻性測(cè)試的結(jié)果表明，在對(duì)這種材料進(jìn)行取樣時(shí)應(yīng)小心。對(duì)于需要材料碎裂的測(cè)試方法，建議的最小樣品量為 200 毫克。對(duì)于直接測(cè)量磁盤表面的測(cè)試方法，建議仔細(xì)選擇測(cè)量區(qū)域?；鸹ㄔ春洼x光放電測(cè)量應(yīng)在表面的四個(gè)或更多不同位置進(jìn)行； X 射線熒光法應(yīng)觀察 SRM 單位至少四分之一的表面積。該材料不適合用于小面積的直接測(cè)量方法，例如微 X 射線熒光和激光燒蝕技術(shù)。