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如SRM 1648a,PM 2.5,空氣顆粒物,硅粉

SRM 2135c - Ni/Cr薄膜深度剖面 標(biāo)準(zhǔn)品

產(chǎn)品名稱(chēng):SRM 2135c - Ni/Cr薄膜深度剖面 標(biāo)準(zhǔn)品

英文名稱(chēng):Ni/Cr Thin Film Depth Profile

品牌:美國(guó)NIST

產(chǎn)品編號(hào) 規(guī)格 貨期 銷(xiāo)售價(jià) 您的折扣價(jià)
SRM 2135c each 現(xiàn)貨 17715 立即咨詢(xún)

產(chǎn)品詳情
- COA - MSDS

NIST SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面(標(biāo)準(zhǔn)品) 主要用于校準(zhǔn)表面分析中的濺射深度標(biāo)度和腐蝕速率。其周期性結(jié)構(gòu)由八個(gè)定義明確的金屬/金屬界面組成,可用于在多個(gè)深度獲得精確校準(zhǔn)。 SRM 2135c 已通過(guò)總鉻 (Cr) 和鎳 (Ni) 厚度、單元素層間均勻性、Ni 和 Cr 雙層均勻性(周期性)和單層厚度 [1-3] 的認(rèn)證。以質(zhì)量/面積為單位表示的認(rèn)證厚度值在題為“認(rèn)證值和不確定性”的部分中給出。


NIST SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面(標(biāo)準(zhǔn)品) 的一個(gè)單元由拋光的硅 (100) 基板上的九個(gè)交替金屬薄膜層、五層純鉻和四層純鎳組成。各個(gè)層的厚度通常為 57 nm(Cr 為 57 nm,Ni 為 56 nm)。經(jīng)認(rèn)證的樣品面積由基材的全寬(1.0 厘米)和以 2.54 厘米長(zhǎng)的基材為中心的 2.0 厘米長(zhǎng)度確定(見(jiàn)圖 l)。



認(rèn)證到期:

如果按照本證書(shū)中提供的說(shuō)明處理、存儲(chǔ)和使用 SRM,則本 SRM 的認(rèn)證在規(guī)定的測(cè)量不確定度內(nèi)被視為是無(wú)限期的。但是,如果 SRM 被更改、污染或損壞,認(rèn)證將失效。






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